高低溫低氣壓試驗箱

低氣壓試驗箱,高低溫低氣壓簡介

1. 高低溫低氣壓試驗箱適用標準↟✘：UL1642│··✘•、UL2054-2005│··✘•、UN38.3│··✘•、GB/T 18287-2013│··✘•、SJ/T 11169-1998│··✘•、YD 1268.1-2003│··✘•、SJ/T 11170-1998│··✘•、GB/31241-2014中高空模擬試驗規定的要求；

2. 容積↟✘：可定製；

3. 內部裝置尺寸↟✘：可定製 (寬) x 可定製 (深) x 可定製 (高) mm；

4. 外部裝置尺寸↟✘：可定製 (寬) x 可定製 (深) x 可定製 (高) mm；

5. 溫度範圍↟✘：不控；

6. 壓力範圍↟✘：從大氣壓至10mbar（101KaP-1KPa）常用↟✘：11.6KPa；

7. 壓力波動度↟✘：≤±1Kpa(100KPa～40KPa );≤±5%(40KPa～2KPa);≤0.1KPa(≤2KPa)；

8. 壓力測量精度↟✘：滿量程的±1%；

9. 抽空時間↟✘：約10分鐘內╃◕·▩╃，壓力從大氣壓下降至10mbar╃│₪│。

高低溫低氣壓試驗箱滿足試驗標準

GB/T2423.1 2008 電工電子產品環境試驗 第2部分↟✘：試驗方法試驗A↟✘：低溫

GB/T2423.2 2008 電工電子產品環境試驗 第2部分↟✘：試驗方法試驗B↟✘：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分↟✘：試驗方法試驗Cab↟✘：恆定溼熱試驗

GJB150.3A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第3部分↟✘：高溫試驗

GJB150.4A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第4部分↟✘：低溫試驗

GJB150.9A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第9部分↟✘：溼熱試驗

GB/T2423. 21-91 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M↟✘：低氣壓試驗方法

GB/T2423.25-92 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z-AM↟✘：低溫-低氣壓綜合試驗

GB/T2423.26-92 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z-BM↟✘：高溫-低氣壓綜合試驗