高低溫試驗箱ASTD-GDW溼熱交變箱定製保溫層要求採用高強度保溫良好的保溫材料☁₪◕✘,避免不必要的能量損失◕₪•│。測試門與機體採用耐高低溫的高張性密封條☁₪◕✘,確保測試區的密封◕₪•│。觀測視窗附照明保持箱內明亮◕₪•│。機體左右兩側各開一個直徑100毫米的測試孔☁₪◕✘,帶蓋及軟塞◕₪•│。
恆溫恆溼試驗箱ASTD-HWS-2000滿足標準↟▩✘:$nGB10592-89 高低溫試驗箱技術條件$nGB10586-89 溼熱試驗箱技術條件$nGB2423.1-2001(IEC68-2-1) 試驗A↟▩✘:低溫試驗方法$nGB2423.2-2001(IEC68-2-2) 試驗B↟▩✘:高溫試驗方法$nGB2423.3-93(IEC68-2-3) 試驗Ca↟▩✘:恆定溼熱試驗方法
用於測試和確定電工✘☁│、電子及其他產品及材料進行高溫✘☁│、低溫✘☁│、或恆定試驗的溫度環境 變化後的引數及效能◕₪•│。高低溫迴圈試驗箱 恆溫恆溼環境箱 步入式
裝置名稱↟▩✘:高低溫低氣壓試驗箱$n型號↟▩✘:ASTD1000-70W$n標稱內容積↟▩✘:可定製$n溫度範圍↟▩✘:-70℃~+150℃$n壓力範圍↟▩✘:常壓~0.5kPa$n降溫時間↟▩✘:+20℃→ -65℃☁₪◕✘,0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化(常壓✘☁│、空載)
低氣壓試驗箱主要用於航天✘☁│、資訊✘☁│、電子等領域☁₪◕✘,確定儀器儀表✘☁│、電工產品✘☁│、材料✘☁│、零部件✘☁│、裝置在低氣壓✘☁│、高溫✘☁│、低溫單項或同時作用下的環境適應性與可靠性試驗☁₪◕✘,並或同時對試件通電進行電氣效能引數的測量☁₪◕✘,採用整體式組合結構形式☁₪◕✘,試驗箱由位於前部的保溫箱體(承壓結構)✘☁│、位於後部的製冷✘☁│、真空機組和位於試驗箱大門上的電器控制器(系統)組成◕₪•│。
老化試驗箱作為基本的高溫老化測試☁₪◕✘,亦可當老化試驗機及烘箱使用, 呈現一機多用途的功能◕₪•│。
高低溫衝擊(冷熱)試驗箱 溼度範圍↟▩✘:20% - 98%$n溼度偏差↟▩✘:±3%$n溫度波動度↟▩✘:≤±0.5℃ $n溫度均勻性↟▩✘:≤2.5℃ $n溫度下降時間↟▩✘:+75℃~-40℃(空載時30分鐘以內)$n溫度上升時間↟▩✘:-40℃~+75℃(空載時30分鐘以內)
可程式試驗箱可分多段控制☁₪◕✘,因程式相對複雜及多重性☁₪◕✘,如用按鍵控制☁₪◕✘,功能鍵複雜而且難以牢記☁₪◕✘,因此直接採用液晶觸控式螢幕控制☁₪◕✘,只需設定好實驗程式☁₪◕✘,無需人員留守看護即可完成測試◕₪•│。快速溫度變化(溼熱)試驗箱
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