高低溫試驗箱ASTD-GDW溼熱交變箱定製保溫層要求採用高強度保溫良好的保溫材料☁₪◕✘，避免不必要的能量損失◕₪•│。測試門與機體採用耐高低溫的高張性密封條☁₪◕✘，確保測試區的密封◕₪•│。觀測視窗附照明保持箱內明亮◕₪•│。機體左右兩側各開一個直徑100毫米的測試孔☁₪◕✘，帶蓋及軟塞◕₪•│。

恆溫恆溼試驗箱ASTD-HWS-2000滿足標準↟▩✘：$nGB10592-89 高低溫試驗箱技術條件$nGB10586-89 溼熱試驗箱技術條件$nGB2423.1-2001（IEC68-2-1） 試驗A↟▩✘：低溫試驗方法$nGB2423.2-2001（IEC68-2-2） 試驗B↟▩✘：高溫試驗方法$nGB2423.3-93（IEC68-2-3） 試驗Ca↟▩✘：恆定溼熱試驗方法

用於測試和確定電工✘☁│、電子及其他產品及材料進行高溫✘☁│、低溫✘☁│、或恆定試驗的溫度環境 變化後的引數及效能◕₪•│。高低溫迴圈試驗箱 恆溫恆溼環境箱 步入式

裝置名稱↟▩✘：高低溫低氣壓試驗箱$n型號↟▩✘：ASTD1000-70W$n標稱內容積↟▩✘：可定製$n溫度範圍↟▩✘：-70℃～+150℃$n壓力範圍↟▩✘：常壓～0.5kPa$n降溫時間↟▩✘：+20℃→ -65℃☁₪◕✘，0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化（常壓✘☁│、空載）

低氣壓試驗箱主要用於航天✘☁│、資訊✘☁│、電子等領域☁₪◕✘，確定儀器儀表✘☁│、電工產品✘☁│、材料✘☁│、零部件✘☁│、裝置在低氣壓✘☁│、高溫✘☁│、低溫單項或同時作用下的環境適應性與可靠性試驗☁₪◕✘，並或同時對試件通電進行電氣效能引數的測量☁₪◕✘，採用整體式組合結構形式☁₪◕✘，試驗箱由位於前部的保溫箱體（承壓結構）✘☁│、位於後部的製冷✘☁│、真空機組和位於試驗箱大門上的電器控制器（系統）組成◕₪•│。

老化試驗箱作為基本的高溫老化測試☁₪◕✘，亦可當老化試驗機及烘箱使用, 呈現一機多用途的功能◕₪•│。

高溫老化房作為基本的高溫老化測試☁₪◕✘，亦可當老化試驗機及烘箱使用, 呈現一機多用途的功能◕₪•│。效能穩定 PLC可程式設計觸控式螢幕控制 操作自動化✘☁│、簡單化 多重保護☁₪◕✘，安全可靠

高低溫衝擊（冷熱）試驗箱 溼度範圍↟▩✘：20% - 98%$n溼度偏差↟▩✘：±3%$n溫度波動度↟▩✘：≤±0.5℃ $n溫度均勻性↟▩✘：≤2.5℃ $n溫度下降時間↟▩✘：+75℃~-40℃（空載時30分鐘以內）$n溫度上升時間↟▩✘：-40℃~+75℃（空載時30分鐘以內）

可程式試驗箱可分多段控制☁₪◕✘，因程式相對複雜及多重性☁₪◕✘，如用按鍵控制☁₪◕✘，功能鍵複雜而且難以牢記☁₪◕✘，因此直接採用液晶觸控式螢幕控制☁₪◕✘，只需設定好實驗程式☁₪◕✘，無需人員留守看護即可完成測試◕₪•│。快速溫度變化（溼熱）試驗箱